F54-XY-200薄膜厚度測量儀
型 號
所屬分類實(shí)驗(yàn)室儀器
報(bào)價(jià)
更新時間2024-11-01
產(chǎn)品描述：F54-XY-200薄膜厚度測量儀：借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供厚度測量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點(diǎn)數(shù)量。
產(chǎn)品概述
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
自動薄膜厚度測繪系統(tǒng)
借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供厚度測量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。
圖案表面的顯微測量
F54-XY-200薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實(shí)時攝像頭，可以精確監(jiān)控膜厚測量點(diǎn)。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品，并且可以改良在較粗糙的材料上的測量性能。
FILMAPPER軟件-測量自動化測繪模式生成器
F54-XY-200薄膜厚度測量儀內(nèi)置的測繪圖案生成器使您可以輕松的生成測量樣品相關(guān)區(qū)域所需的坐標(biāo)圖案，從而節(jié)省了數(shù)據(jù)采集時間。以下是您可以調(diào)整的自定義測繪屬性的一些參數(shù):
樣品形狀:圓形或矩形
徑向，矩形或線性圖案
中心和邊緣去除
點(diǎn)密度
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